Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://ir.stu.cn.ua/123456789/17772
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Ситников, О. П. | - |
dc.date.accessioned | 2019-06-03T09:13:51Z | - |
dc.date.available | 2019-06-03T09:13:51Z | - |
dc.date.issued | 2018 | - |
dc.identifier.uri | http://ir.stu.cn.ua/123456789/17772 | - |
dc.description | Ситников, О. П. Керована електричним полем фазова рідкокристалічна дифракційна ґратка як елемент оптоелектронних вимірювальних систем / О. П. Ситников // Комплексне забезпечення якості технологічних процесів та систем (КЗЯТПС – 2018) : матеріали тез доповідей VІІІ міжнар. наук.- практ. конференції (м. Чернігів , 10–12 травня 2018 р.) : у 2-х т.– Чернігів : ЧНТУ, 2018. – Т. 2. – С. 148-149. | en_US |
dc.description.abstract | Метою цієї роботи є визначення способу формування керованого перерозподілу енергії світлових хвиль між головними максимумами дифракційної картини за допомогою рідкокристалічної фазової дифракційної ґратки, в якій профіль штриха регулюється змінним електричним полем. | en_US |
dc.language.iso | uk | en_US |
dc.publisher | Чернігів : ЧНТУ | en_US |
dc.subject | електричне поле | en_US |
dc.subject | дифракційна гратка | en_US |
dc.subject | вимірювальні системи | en_US |
dc.title | Керована електричним полем фазова рідкокристалічна дифракційна ґратка як елемент оптоелектронних вимірювальних систем | en_US |
dc.type | Working Paper | en_US |
Розташовується у зібраннях: | Тези доповідей VІІІ Міжнародної науково-практичної конференції (м. Чернігів , 10–12 травня 2018 р.) |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
Ситников 148-149.pdf | 116,99 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.