Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ir.stu.cn.ua/123456789/17772
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorСитников, О. П.-
dc.date.accessioned2019-06-03T09:13:51Z-
dc.date.available2019-06-03T09:13:51Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.urihttp://ir.stu.cn.ua/123456789/17772-
dc.descriptionСитников, О. П. Керована електричним полем фазова рідкокристалічна дифракційна ґратка як елемент оптоелектронних вимірювальних систем / О. П. Ситников // Комплексне забезпечення якості технологічних процесів та систем (КЗЯТПС – 2018) : матеріали тез доповідей VІІІ міжнар. наук.- практ. конференції (м. Чернігів , 10–12 травня 2018 р.) : у 2-х т.– Чернігів : ЧНТУ, 2018. – Т. 2. – С. 148-149.en_US
dc.description.abstractМетою цієї роботи є визначення способу формування керованого перерозподілу енергії світлових хвиль між головними максимумами дифракційної картини за допомогою рідкокристалічної фазової дифракційної ґратки, в якій профіль штриха регулюється змінним електричним полем.en_US
dc.language.isouken_US
dc.publisherЧернігів : ЧНТУen_US
dc.subjectелектричне полеen_US
dc.subjectдифракційна граткаen_US
dc.subjectвимірювальні системиen_US
dc.titleКерована електричним полем фазова рідкокристалічна дифракційна ґратка як елемент оптоелектронних вимірювальних системen_US
dc.typeWorking Paperen_US
Розташовується у зібраннях:Тези доповідей VІІІ Міжнародної науково-практичної конференції (м. Чернігів , 10–12 травня 2018 р.)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Ситников 148-149.pdf116,99 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.