Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ir.stu.cn.ua/123456789/21589
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorКоваль, А. О.-
dc.date.accessioned2021-03-09T14:23:37Z-
dc.date.available2021-03-09T14:23:37Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.urihttp://ir.stu.cn.ua/123456789/21589-
dc.descriptionКоваль, А. О. Аналіз впливу нестаціонарності технологічних процесів на метрологічні характеристики вимірювальних інформаційних систем / А. О. Коваль // Комплексне забезпечення якості технологічних процесів та систем (КЗЯТПС - 2018) : матеріали тез доп. VІІІ Міжнар. наук.- практ. конф. (м. Чернігів, 10-12 трав. 2018 р.) : у 2-х т. – Чернігів : ЧНТУ, 2018. – Т. 2. – С. 186-187.en_US
dc.description.abstractВ даній роботі для обробки вимірювальних даних використовувались інтелектуальна система аналізу даних на основі нейронних мереж, в основу роботи якої покладено технології Data Minimg.en_US
dc.language.isouken_US
dc.publisherЧернігів : ЧНТУen_US
dc.subjectвимірювальні системиen_US
dc.subjectтехнології Data Minimgen_US
dc.titleАналіз впливу нестаціонарності технологічних процесів на метрологічні характеристики вимірювальних інформаційних системen_US
dc.typeWorking Paperen_US
Розташовується у зібраннях:Тези доповідей VІІІ Міжнародної науково-практичної конференції (м. Чернігів , 10–12 травня 2018 р.)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
186-187 Коваль А. О..pdf374,2 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.