Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://ir.stu.cn.ua/123456789/7684
Назва: | Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів |
Автори: | Зайцев, Р.В. Кіріченко, М.В. |
Дата публікації: | 2015 |
Видавництво: | Чернігів: ЧНТУ |
Серія/номер: | Технічні науки; №2 (78) |
Короткий огляд (реферат): | Основним методом визначення параметрів напівпровідникових приладів є метод вимірювання та аналітичного опрацювання їх вольтамперних характеристик (ВАХ). Наявні нині вимірювальні комплекси для реалізації цього методу являють собою коштовні та складні системи, використання яких в умовах вітчизняної промисловості є економічно не вигідним. У роботі розроблено економічний автоматизований вимірювальний комплекс ВАХ на основі мікроконтролерної системи керування із відповідним програмним забезпеченням, що дозволяє у зв’язці із персональним комп’ютером проводити експресну атестацію фотоелектричних перетворювачів та напівпровідникових приладів за їх вольтамперними характеристиками. Апробація комплексу продемонструвала його здатність проводити вимірювання ВАХ з достатньо високою точністю при середній похибці виміру не більше 1 %. |
Опис: | Зайцев Р.В. Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів / Р.В. Зайцев, М.В. Кіріченко // Вісник Чернігівського державного технологічного університету: Серія: Технічні науки - Чернігів: ЧНТУ, 2015. – №2 (78). – C. 181-187. |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ir.stu.cn.ua/123456789/7684 |
Розташовується у зібраннях: | №2(78) |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
1401.pdf | стаття | 1,63 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.