Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ir.stu.cn.ua/123456789/7684
Назва: Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів
Автори: Зайцев, Р.В.
Кіріченко, М.В.
Дата публікації: 2015
Видавництво: Чернігів: ЧНТУ
Серія/номер: Технічні науки; №2 (78)
Короткий огляд (реферат): Основним методом визначення параметрів напівпровідникових приладів є метод вимірювання та аналітичного опрацювання їх вольтамперних характеристик (ВАХ). Наявні нині вимірювальні комплекси для реалізації цього методу являють собою коштовні та складні системи, використання яких в умовах вітчизняної промисловості є економічно не вигідним. У роботі розроблено економічний автоматизований вимірювальний комплекс ВАХ на основі мікроконтролерної системи керування із відповідним програмним забезпеченням, що дозволяє у зв’язці із персональним комп’ютером проводити експресну атестацію фотоелектричних перетворювачів та напівпровідникових приладів за їх вольтамперними характеристиками. Апробація комплексу продемонструвала його здатність проводити вимірювання ВАХ з достатньо високою точністю при середній похибці виміру не більше 1 %.
Опис: Зайцев Р.В. Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів / Р.В. Зайцев, М.В. Кіріченко // Вісник Чернігівського державного технологічного університету: Серія: Технічні науки - Чернігів: ЧНТУ, 2015. – №2 (78). – C. 181-187.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): 
http://ir.stu.cn.ua/123456789/7684
Розташовується у зібраннях:№2(78)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
1401.pdfстаття1,63 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.