Клименко, С. А.; Манохін, А. С.; Клименко, С. А.; Мельнійчук, Ю. О.; Чумак, А. О.; Копєйкіна, М. Ю.; Береснєв, В. М.
(Чернігів : НУ "Чернігівська політехніка", 2024)
Наведено результати досліджень гами багатошарових наноструктурних покриттів на основі системи TiAlN – структурного стану, морфології, складу, мікрогеометрії інтерфейсу. Покриття загальною товщиною 7–8 мкм з товщиною шарів ...