Identification of condition of linear displacement sensor

Benedik, O.; Koláriková, I.; Kelemenová, T.

dc.contributor.author	Kelemenová, T.
dc.contributor.author	Koláriková, I.
dc.contributor.author	Benedik, O.
dc.date.accessioned	2021-04-26T02:54:20Z
dc.date.available	2021-04-26T02:54:20Z
dc.date.issued	2020
dc.identifier.uri	http://ir.stu.cn.ua/123456789/22003
dc.description	Kelemenová T. Identification of condition of linear displacement sensor / T. Kelemenová, I. Koláriková, O. Benedik // Технічні науки та технології. - 2020. - № 3. - С. 259-265.	en_US
dc.description.abstract	Gauge length blocks have been used for verification of investigated sensor. The set of gauge length blocks of grade “0” has been used, which are preferred mainly for calibration or verification purposes. Maximum permissible error has been estimated as math model for next using. Also optimal number of measurement is identified from analysis of standard deviation of measurements made one hundred times on selected dimensions	en_US
dc.language.iso	en	en_US
dc.publisher	НУ «Чернігівська політехніка»	en_US
dc.relation.ispartofseries	Технічні науки та технології;№ 3(21)
dc.subject	displacement sensor	en_US
dc.subject	distance	en_US
dc.subject	measurement	en_US
dc.subject	maximum permissible error	en_US
dc.subject	length gauges	en_US
dc.subject	датчик переміщення	en_US
dc.subject	відстань	en_US
dc.subject	вимірювання	en_US
dc.subject	гранично допустима похибка	en_US
dc.subject	датчики довжини	en_US
dc.title	Identification of condition of linear displacement sensor	en_US
dc.title.alternative	Ідентифікація стану датчика лінійного зміщення	en_US
dc.type	Article	en_US
dc.description.abstractalt1	Для перевірки досліджуваного датчика використовувалися блоки вимірювальної довжини. Був використаний набір блоків вимірювальної довжини класу «0», які використовуються в основному для цілей калібрування чи перевірки. Максимально допустима похибка розрахована як математична модель для наступного використання. Також оптимальна кількість вимірювань визначається з аналізу стандартного відхилення 100-кратного вимірювання обраних розмірів.	en_US