Зайцев, Р.В.; Кіріченко, М.В.
(Чернігів: ЧНТУ, 2015)
Основним методом визначення параметрів напівпровідникових приладів є метод вимірювання та аналітичного опрацювання їх вольтамперних характеристик (ВАХ). Наявні нині вимірювальні комплекси для реалізації цього методу являють ...