dc.contributor.author |
Білокінь, С.О.
|
|
dc.contributor.author |
Бондаренко, М.О.
|
|
dc.contributor.author |
Бондаренко, Ю.Ю.
|
|
dc.contributor.author |
Антонюк, В.С.
|
|
dc.date.accessioned |
2015-09-22T12:38:53Z |
|
dc.date.accessioned |
2015-10-30T14:38:43Z |
|
dc.date.available |
2015-09-22T12:38:53Z |
|
dc.date.available |
2015-10-30T14:38:43Z |
|
dc.date.issued |
2015 |
|
dc.identifier.uri |
|
|
dc.identifier.uri |
http://ir.stu.cn.ua/123456789/7683 |
|
dc.description |
Білокінь С.О. Дослідження фізичних характеристик діелектричних поверхонь за допомогою діагностичного стенда на базі атомно-силового мікроскопа / С.О. Білокінь, М.О. Бондаренко, Ю.Ю. Бондаренко, В.С. Антонюк // Вісник Чернігівського державного технологічного університету: Серія: Технічні науки - Чернігів: ЧНТУ, 2015. – №2 (78). – C. 176-181. |
en_US |
dc.description.abstract |
Розглянуто актуальне завдання розроблення методичного забезпечення для визначення механічних характеристик діелектричних матеріалів у нанометровому діапазоні. Для комплексного дослідження пружних сил, капілярних сил та визначення залишкового трибозаряду пропонується використання діагностичного стенда, який створено на базі атомно-силового мікроскопа. Розроблена та описана в роботі блок-схема стенда та схема автоматизації технологічного процесу дозволяє усунути негативні зовнішні впливи на процес діагностування з боку оператора. За результатами дослідження матеріалів, які знайшли широке використання у галузі точного приладобудування (на прикладі кремнію Кр0, оптичного скла К8 та п’єзоелектричної кераміки ЦТС-19) встановлено похибку визначення їх механічних характеристик, яка не перевищує 7,5 %. |
en_US |
dc.language.iso |
uk |
en_US |
dc.publisher |
Чернігів: ЧНТУ |
en_US |
dc.relation.ispartofseries |
Технічні науки; №2 (78) |
|
dc.title |
Дослідження фізичних характеристик діелектричних поверхонь за допомогою діагностичного стенда на базі атомно-силового мікроскопа |
en_US |
dc.type |
Article |
en_US |