Показати скорочений опис матеріалу
dc.contributor.author | Білокінь, С.О. | |
dc.contributor.author | Бондаренко, М.О. | |
dc.contributor.author | Бондаренко, Ю.Ю. | |
dc.contributor.author | Антонюк, В.С. | |
dc.date.accessioned | 2015-09-22T12:38:53Z | |
dc.date.accessioned | 2015-10-30T14:38:43Z | |
dc.date.available | 2015-09-22T12:38:53Z | |
dc.date.available | 2015-10-30T14:38:43Z | |
dc.date.issued | 2015 | |
dc.identifier.uri | ||
dc.identifier.uri | http://ir.stu.cn.ua/123456789/7683 | |
dc.description | Білокінь С.О. Дослідження фізичних характеристик діелектричних поверхонь за допомогою діагностичного стенда на базі атомно-силового мікроскопа / С.О. Білокінь, М.О. Бондаренко, Ю.Ю. Бондаренко, В.С. Антонюк // Вісник Чернігівського державного технологічного університету: Серія: Технічні науки - Чернігів: ЧНТУ, 2015. – №2 (78). – C. 176-181. | en_US |
dc.description.abstract | Розглянуто актуальне завдання розроблення методичного забезпечення для визначення механічних характеристик діелектричних матеріалів у нанометровому діапазоні. Для комплексного дослідження пружних сил, капілярних сил та визначення залишкового трибозаряду пропонується використання діагностичного стенда, який створено на базі атомно-силового мікроскопа. Розроблена та описана в роботі блок-схема стенда та схема автоматизації технологічного процесу дозволяє усунути негативні зовнішні впливи на процес діагностування з боку оператора. За результатами дослідження матеріалів, які знайшли широке використання у галузі точного приладобудування (на прикладі кремнію Кр0, оптичного скла К8 та п’єзоелектричної кераміки ЦТС-19) встановлено похибку визначення їх механічних характеристик, яка не перевищує 7,5 %. | en_US |
dc.language.iso | uk | en_US |
dc.publisher | Чернігів: ЧНТУ | en_US |
dc.relation.ispartofseries | Технічні науки; №2 (78) | |
dc.title | Дослідження фізичних характеристик діелектричних поверхонь за допомогою діагностичного стенда на базі атомно-силового мікроскопа | en_US |
dc.type | Article | en_US |