IRCPNU
Institutional Repository of Chernihiv Polytechnic National University

Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів

ISSN 2415-363X

Show simple item record

dc.contributor.author Зайцев, Р.В.
dc.contributor.author Кіріченко, М.В.
dc.date.accessioned 2015-09-22T12:38:53Z
dc.date.accessioned 2015-10-30T14:38:50Z
dc.date.available 2015-09-22T12:38:53Z
dc.date.available 2015-10-30T14:38:50Z
dc.date.issued 2015
dc.identifier.uri
dc.identifier.uri http://ir.stu.cn.ua/123456789/7684
dc.description Зайцев Р.В. Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів / Р.В. Зайцев, М.В. Кіріченко // Вісник Чернігівського державного технологічного університету: Серія: Технічні науки - Чернігів: ЧНТУ, 2015. – №2 (78). – C. 181-187. en_US
dc.description.abstract Основним методом визначення параметрів напівпровідникових приладів є метод вимірювання та аналітичного опрацювання їх вольтамперних характеристик (ВАХ). Наявні нині вимірювальні комплекси для реалізації цього методу являють собою коштовні та складні системи, використання яких в умовах вітчизняної промисловості є економічно не вигідним. У роботі розроблено економічний автоматизований вимірювальний комплекс ВАХ на основі мікроконтролерної системи керування із відповідним програмним забезпеченням, що дозволяє у зв’язці із персональним комп’ютером проводити експресну атестацію фотоелектричних перетворювачів та напівпровідникових приладів за їх вольтамперними характеристиками. Апробація комплексу продемонструвала його здатність проводити вимірювання ВАХ з достатньо високою точністю при середній похибці виміру не більше 1 %. en_US
dc.language.iso ru en_US
dc.publisher Чернігів: ЧНТУ en_US
dc.relation.ispartofseries Технічні науки; №2 (78)
dc.title Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів en_US
dc.type Article en_US


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record