dc.contributor.author |
Зайцев, Р.В.
|
|
dc.contributor.author |
Кіріченко, М.В.
|
|
dc.date.accessioned |
2015-09-22T12:38:53Z |
|
dc.date.accessioned |
2015-10-30T14:38:50Z |
|
dc.date.available |
2015-09-22T12:38:53Z |
|
dc.date.available |
2015-10-30T14:38:50Z |
|
dc.date.issued |
2015 |
|
dc.identifier.uri |
|
|
dc.identifier.uri |
http://ir.stu.cn.ua/123456789/7684 |
|
dc.description |
Зайцев Р.В. Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів / Р.В. Зайцев, М.В. Кіріченко // Вісник Чернігівського державного технологічного університету: Серія: Технічні науки - Чернігів: ЧНТУ, 2015. – №2 (78). – C. 181-187. |
en_US |
dc.description.abstract |
Основним методом визначення параметрів напівпровідникових приладів є метод вимірювання та аналітичного опрацювання їх вольтамперних характеристик (ВАХ). Наявні нині вимірювальні комплекси для реалізації цього методу являють собою коштовні та складні системи, використання яких в умовах вітчизняної промисловості є економічно не вигідним. У роботі розроблено економічний автоматизований вимірювальний комплекс ВАХ на основі мікроконтролерної системи керування із відповідним програмним забезпеченням, що дозволяє у зв’язці із персональним комп’ютером проводити експресну атестацію фотоелектричних перетворювачів та напівпровідникових приладів за їх вольтамперними характеристиками. Апробація комплексу продемонструвала його здатність проводити вимірювання ВАХ з достатньо високою точністю при середній похибці виміру не більше 1 %. |
en_US |
dc.language.iso |
ru |
en_US |
dc.publisher |
Чернігів: ЧНТУ |
en_US |
dc.relation.ispartofseries |
Технічні науки; №2 (78) |
|
dc.title |
Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів |
en_US |
dc.type |
Article |
en_US |