Показати скорочений опис матеріалу
dc.contributor.author | Зайцев, Р.В. | |
dc.contributor.author | Кіріченко, М.В. | |
dc.date.accessioned | 2015-09-22T12:38:53Z | |
dc.date.accessioned | 2015-10-30T14:38:50Z | |
dc.date.available | 2015-09-22T12:38:53Z | |
dc.date.available | 2015-10-30T14:38:50Z | |
dc.date.issued | 2015 | |
dc.identifier.uri | ||
dc.identifier.uri | http://ir.stu.cn.ua/123456789/7684 | |
dc.description | Зайцев Р.В. Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів / Р.В. Зайцев, М.В. Кіріченко // Вісник Чернігівського державного технологічного університету: Серія: Технічні науки - Чернігів: ЧНТУ, 2015. – №2 (78). – C. 181-187. | en_US |
dc.description.abstract | Основним методом визначення параметрів напівпровідникових приладів є метод вимірювання та аналітичного опрацювання їх вольтамперних характеристик (ВАХ). Наявні нині вимірювальні комплекси для реалізації цього методу являють собою коштовні та складні системи, використання яких в умовах вітчизняної промисловості є економічно не вигідним. У роботі розроблено економічний автоматизований вимірювальний комплекс ВАХ на основі мікроконтролерної системи керування із відповідним програмним забезпеченням, що дозволяє у зв’язці із персональним комп’ютером проводити експресну атестацію фотоелектричних перетворювачів та напівпровідникових приладів за їх вольтамперними характеристиками. Апробація комплексу продемонструвала його здатність проводити вимірювання ВАХ з достатньо високою точністю при середній похибці виміру не більше 1 %. | en_US |
dc.language.iso | ru | en_US |
dc.publisher | Чернігів: ЧНТУ | en_US |
dc.relation.ispartofseries | Технічні науки; №2 (78) | |
dc.title | Розроблення системи автоматизації вимірювань параметрів напівпровідникових приладів | en_US |
dc.type | Article | en_US |