IRChNUT
Електронний архів Національного університету "Чернігівська політехніка"

Принципи визначення надійності мехатронних технологічних комплексів

ISSN 2415-363X

Показати скорочений опис матеріалу

dc.contributor.author Пальчевський, Б. О.
dc.date.accessioned 2023-06-08T08:17:07Z
dc.date.available 2023-06-08T08:17:07Z
dc.date.issued 2023
dc.identifier.uri http://ir.stu.cn.ua/123456789/27932
dc.description Пальчевський, Б. О. Принципи визначення надійності мехатронних технологічних комплексів / Б. О. Пальчевський // Комплексне забезпечення якості технологічних процесів та систем (КЗЯТПС – 2023) : тези доповідей XІІІ Міжнародної науково-практичної конференції (м. Чернігів, 25–26 травня 2023 р.) : у 2 т. Т. 1. – Чернігів : НУ «Чернігівська політехніка», 2023. – С. 63-64. uk_UA
dc.description.abstract Технічне діагностування – комплекс операцій по встановленню наявності дефектів і несправностей технологічного обладнання. Основними об'єктами діагностування стають найбільш навантажені вузли і механізми технологічного обладнання, що працюють в складних і важких умовах застосування, при підвищених температурах, хімічному і електричному впливі, незадовільних умовах доступності до обслуговування, мащення. Контроль та моніторинг технічного стану має особливе значення для мехатронних технологічних комплексів (МТК), що набувають поширення в дискретному, наприклад пакувальному, виробництвах. Тобто технологічних комплексів, що мають в своєму складі мехатронні виконавчі механізми. Метою дослідження є удосконалення методу автоматизованого тестування параметрів МТК та розробка програмно-апаратного забезпечення для визначення його технічного стану. uk_UA
dc.language.iso uk uk_UA
dc.publisher Чернігів : НУ "Чернігівська політехніка" uk_UA
dc.title Принципи визначення надійності мехатронних технологічних комплексів uk_UA
dc.type Working Paper uk_UA


Долучені файли

Даний матеріал зустрічається у наступних розділах

Показати скорочений опис матеріалу